Modeling OLED luminance decay under thermal, constant and cyclic electrical stress - Université Toulouse III - Paul Sabatier - Toulouse INP Accéder directement au contenu
Article Dans Une Revue IEEE Transactions on Industry Applications Année : 2022

Modeling OLED luminance decay under thermal, constant and cyclic electrical stress

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Dates et versions

hal-03779722 , version 1 (17-09-2022)

Identifiants

Citer

Andrea Al Haddad, Antoine Picot, Laurent Canale, Pascal Dupuis, Georges Zissis, et al.. Modeling OLED luminance decay under thermal, constant and cyclic electrical stress. IEEE Transactions on Industry Applications, inPress, pp.1-8. ⟨10.1109/TIA.2022.3206286⟩. ⟨hal-03779722⟩
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